Sociedad Española de Biometría

Fecha

marzo 9, 2017

BCAM – UPV/EHU: Seminarios de Estadística Aplicada

El grupo de Estadística Aplicada del BCAM-Basque Center for Applied Mathematics  y los departamentos de Economía Aplicada III (Econometría y Estadística) y Matemática Aplicada, Estadística e Investigación Operativa de la UPV/EHU se complacen en anunciar el inicio de una serie… Seguir leyendo →

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